Upgrading the infrastructure of old scientific instruments requires the development of new hardware and software which may be expensive (in general, these projects lack of enough resources to acquire fast and modern infrastructure to become competitive and functional in the era of digital data). Particularly, the development of software for data acquisition in real time is one of the most important topics in experimental science and industry. However, the constant improvements on the data acquisition hardware, discourages the development of software highly optimized in order to minimize the consumption of resources like processor time and read/write memory, etc. In this work, we present a Open Source code called "X Interface to RIS" (Xitris). This is a modular and distributed code which, using relatively slow processors and low memory hardware, is able to acquire, display, compress and publish (via Internet) digital data in real time.

Cette article présente une nouvelle architecture pour le test de modules pré-conçus « Intellectual Properties » (IP) et leurs interconnexions au niveau de systèmes intégrés sur une seule puce « System-On-Chip » (SOC). Cette nouvelle architecture de test combine la norme IEEE P1500 et la technique du test intégré « Built-In Self-Test » (BIST) dans une même structure de test configurable. L'architecture de test proposée permet principalement de réduire la surface de silicium additionnelle et d'assurer avec ses différents modes de test une bonne qualité de test sans dégradation de performances. Pour valider notre approche, nous avons comparé les surfaces obtenues pour certains circuits benchmark encapsulés en utilisant la nouvelle structure de test avec celles obtenues en utilisant une structure de test conventionnelle. Nous avons obtenu une moyenne de 5,35% de réduction de surface, le gain en surface varie entre 9,87% et 0,84%.