No abstract

No abstract

Резюме. Цель. Развитие радиоэлектронной промышленности вызывает быстрый рост функциональности выпускаемых изделий, что в свою очередь приводит к усложнению структуры радиоэлектронных систем (РЭС) при одновременном повышении требований к их надёжности. Используемые модели имеют ряд недостатков, главным из которых является тот факт, что они позволяют получить точную оценку показателей безотказности только в отдельных (частных) случаях. Такая оценка пригодна для подтверждения требований технического задания, но она не предоставляет возможности провести анализ надёжности РЭС после изготовления опытной партии аппаратуры. Поэтому задача определения характеристик надёжности изготовленных образцов РЭС представляется актуальной. Методы. Рассматривается апостериорный анализ надёжности РЭС, который выполняется после изготовления опытной партии аппаратуры с целью определения её характеристик надёжности. Такие испытания необходимы потому, что на стадии проектирования устройства конструктор не располагает полными априорными сведениями, которые позволили бы заранее определить показатели надёжности с достаточно высокой достоверностью. Важным источником сбора информации о надёжности является система сбора данных о работе изделий в процессе их эксплуатации. Существуют два основных вида испытаний на надёжность. Один из них-определительные испытания, задачей которых является оценка показателей надёжности. Он характерен для крупносерийных изделий. Другой вид испытаний-контрольные испытания, задачей которых является проверка соответствия техническим условиям показателя надёжности системы. Второму виду испытаний и посвящена данная работа. Результаты. Необходимо ответить на вопрос, соответствуют ли характеристики надёжности изделия (изготовленной РЭС) заданным требованиям, предусмотренным техническими условиями на изготовление изделия. Для решения этой задачи используется математический аппарат статистической теории гипотез. Рассматриваются две гипотезы: гипотеза H 0-среднее время наработки на отказ t*=T 0 задаётся требованиями ТУ (изделие хорошее); гипотеза H 1-среднее время наработки на отказ t*=T 1

No abstract

No abstract