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Bei der Bestimmung der Partikelgrößenverteilung wird häufig Laserbeugung eingesetzt. Neben den vielen Vorteilen dieser Methode, wie kurze Messdauer und breiter Messbereich, gibt es jedoch auch Schwächen. So zeigen sich besonders bei sehr breiten Verteilungen signifikante, statistische Ungenauigkeiten. Mit dem Bettersizer S3 Plus konnte erstmals gleichzeitig die Partikelgrößenverteilung von Nanometer-, Mikrometer-und Millimeterteilchen exakt bestimmt und Einzelteilcheninformationen über das Ü berkorn und Agglomerationsphänomene gewonnen werden. Die Vorteile der Kombination von statischer Lichtstreuung mit dynamischer Bildanalyse werden anhand eines Beispiels demonstriert.Laser diffraction is often used for determination of the particle size distribution. However, besides many advantages of this method, such as short measurement time and wide measurement range, there are also shortcomings. Significant statistical inaccuracies are particularly evident in very broad distributions. For the first time, the particle size distribution of nanometer, micrometer and millimeter particles could be exactly determined with the Bettersizer S3 Plus and individual particle information on the oversize grain and agglomeration phenomena could be obtained. The advantages of combining static light scattering with dynamic image analysis are demonstrated.

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