Palyatif bakım, hastalığı daha fazla tedavi edilemez olan hastaları, hastalıklarının son aşamasına kadar yaşam kalitelerinin artması ve acılarının azaltılması açısından destekleyen bir hizmettir. Giderek yaşlanan nüfus ve toplumun bireyselleşmesiyle bağlantılı olarak ailenin sorumluluklarının azaldığı dünya şartlarında palyatif bakımın ve palyatif bakım hasta ve hasta yakınlarına yönelik sosyal hizmetin rolü giderek daha fazla önem kazanmaktadır. Bu araştırmanın amacı palyatif bakımın hasta yakınları üzerindeki ekonomik, psikolojik ve sosyal etkileri ile hasta yakınlarının süreçte karşılaştıkları ihtiyaçları ortaya koymaktır. Bu amaç doğrultusunda, amaçlı örneklem yöntemiyle İskenderun Devlet Hastanesi Palyatif Bakım Birimi'nden seçilen 15 hasta yakını ile nitel bir araştırma gerçekleştirilmiştir. Katılımcılardan toplanan veriler içerik analizi yoluyla analiz edilmiş, tema ve kategorilere ayrılmıştır. Araştırma bulgularına göre katılımcıların görüşleri doğrultusunda 5 tema ve 26 kategori elde edilmiştir. Araştırma sonucunda hasta yakınlarının süreçte gelir kaybına uğradığı, sosyal çevresinde ve yaşantısında kayıplar yaşadığı, kaybetme korkusu ve belirsizlik kaygısı yaşadıkları ve en çok refakatçi desteğine ihtiyaç duydukları bulgularına ulaşılmıştır. Bu bulgular hasta yakınlarının süreç boyunca tıbbi sosyal hizmet birimi tarafından desteklenmesi gerektiğini göstermektedir.

No abstract

In this work we investigate a non-invasive, non-destructive characterization technique for monitoring the quality of film, oxide and interfaces in silicon-on-insulator (SOI) wafers. This technique is based on optical second harmonic generation (SHG). The principles of SHG and the experimental setup will be thoroughly described. The experimental parameters best suited for testing SOI wafers with SHG are identified. SOI geometry, as well as the passivation of the top surface, both have an impact on the observed SHG signal. The back-gate bias applied on the substrate is shown to modulate the SHG signal.