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Durch γ‐Strahlen in Silicagel erzeugte Elektronen und Defektelektronen werden in Haftstellen lokalisiert und treten bei Adsorption von Gasen mit Molekeln in Wechselwirkung.

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KurzfassungDie Vergleichbarkeit quantitativer Gefügeanalysen stößt auf Grund unterschiedlicher Analysengeräte, verschiedener Auswertealgorithmen, unterschiedlicher Vorgehensweisen bei der Probenpräparation und eines unterschiedlichen Ausbildungsstandes des Personals in der betrieblichen Praxis schnell an ihre Grenzen. Die Verwendung von Referenzmaterialien zur Kalibrierung des gesamten Analysensystems, wie in der chemischen Analytik seit langem üblich, dürfte auch in diesem Bereich der Materialprüfung hilfreich sein. An die Homogenität der Referenzmaterialien sind hohe Anforderungen zu stellen, die bei metallischen Legierungssystemen, insbesondere bei Gusswerkstoffen, nicht ohne weiteres zu erfüllen sind. Im vorliegenden Beitrag wird der Versuch beschrieben, Referenzmaterial für die quantitative metallographische Analyse von Kugelgraphit in EN-GJS-400-15 zu gewinnen.