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eBook PDF 119,00 € ISBN 978-3-16-147202-2 Leinen 119,00 € Der Sabbat ist eines der wichtigsten Merkmale jüdischer Identität. Lutz Doering richtet seinen Blick auf die Antike und sucht nach Regelungen ('Halacha') und konkretem Verhalten ('Praxis'), die mit dem Sabbat in Zusammenhang stehen. Dabei spannt er den Bogen von den Elephantine-Ostraka (ca. 475 v. Chr.) bis zur folgenreichen Zäsur des zweiten jüdischen Aufstands (132-135 n. Chr.). Er analysiert und vergleicht unter anderem die einschlägigen Abschnitte aus dem Jubiläenbuch und Qumrantexten, Philon und Josephus sowie Belege auf Papyri und Ostraka. Außerdem zeigt er Grundlinien frührabbinischer Sabbathalacha auf. Wie ist im Neuen Testament der Umgang Jesu und der urchristlichen Überlieferer mit dem Sabbat dargestellt? Welche Auskünfte gibt das Neue Testament über jüdische Sabbathalacha? Lutz Doering zeigt, daß Sabbathalacha und -praxis bis zum Beginn des 2. Jahrhunderts n. Chr. vielgestaltig sind. Die verschiedenen Segmente des Judentums haben Sabbatvorschriften entwickelt, die über die spärlichen biblischen Vorgaben weit hinausgehen. Neben Gemeinsamkeiten und Entwicklungslinien kann man auch gegensätzliche halachische Positionen feststellen. Es wird deutlich, daß der Sabbat zwar eine von der Mehrzahl der Juden geteilte Institution ist, aber im einzelnen unterschiedlich realisiert wird. Eine mögliche Realisierung ndet sich bei Jesus von Nazaret, der im Horizont eines eschatologischen Sabbatverständnisses auch an diesem Tag heilt; sein Verzicht auf halachische Absicherung bleibt grundlegend für den christlichen Umgang mit dem Sabbat.

SummaryDue to the lack of size-adapted probing elements, it has for a long time not been possible to conduct dimensional measurements on components of microsystem technology. Two new microprobing systems on the basis of piezoresistive silicon sensors are now available and can be used for precision measurements. Due to the diversity of materials to be tested (quite a few of them have a low hardness), the elastic and plastic deformation during the measurement is of great importance. These systematic deviations and the scratches can be avoided only by the use of small probing forces. The paper describes the microforce measuring techniques developed and gives the prospects for nanoforce metrology which is at present under development and which is required for scanning force microscopic precision measurements. A focal point of the research activities concerns the modelling of the deformations during tactile scanning measurements.

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