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ZusammenfassungAus dem Mioz~in )~gyptens wurde Bleiglanz auf Spurenelemente bin untersucht. Die Arbeitsmethode wird kurz dargestellt. Die relative Anreicherung im Gehah yon T1 und Cd sowie die unregelm~i/3ige Verteilung und der niedrige Anteil an Ag, Bi und Sb zeigen niedrige Bildungstemperaturen an. Der Spurengehalt yon Hemimorphiten, Cerussiten, Wulfeniten und anderen Mineralen gemeinsam mit Bleiglanz weist auf einen Zusammenhang mit aufsteigenden exhalativen LSsungen hin, AbstractThe trace-elements content of some M. Miocene Egyptian galenas is given and the method is briefly described. The relative enrichment in T1 and Cd together with the irregular distribution and low Ag, Bi and Sb content indicate low temperature conditions of formation. The trace content of hemimor-phites, eerussites, wulfenites and other minerals associated with galena shows that they are related to ascending exhalative solutions. R6sum6Des gal6nes du Mioc6ne d'Egypte ont fait l'objet d'une recherche sur la base des 616ments en traces. La m6thode de travail est d6crite. L'enrichissement relatif en T1 et Cd, ainsi que la r~partition irr6guli~re et la faible participation en Ag, Bi et Sb indiquent de basses temp6ratures de formation. La teneur en traces des h6mimorphites, e6rusites, wulf~nites et autres min6raux assoei6s ~ la gal~ne indique une liaison avec des solutions exhalatives montantes. I~paT~oe co~ep~aaaeHcc~e~oBa~H pacnpe~e~eHne MHI~po~JIeMeHT0n B raJIeHHTaX I43 30I~eHOBblX OTJIO~KeHHI~I (ErttrIer). rlpHBO~HTCH HpaT~oe onHcaHHe MeTO~HKH onpe~e~eHrIa. CpaBHHWe~bHoe o6orameHHe T1 H Cd, HepaBHoMepaoe pacnpe~e~eHr~e a nOHH~eH-Hoe co~ep~anHe Ag, Bi H Sb yHa3r~marow Ha HI43Hym TeranepaTypy Hx o6pa3o-BaHHm Co~ep~aHHe MH~poz~eraeHros B reMHraopdpHwax, ~epyccHTaX, By~r~qbeHri-wax H ~pyrHx MHaepa~ax, Haxoz~a~Hxca n acco~Ha~rla c ra~e~Hrar~H, yH3r, inaeT Ha en~3]~ HX e nO~HHBIIIHMHC~ DKCFaJIaI~HOHHI~IMH paeTnopaMH.

An emission spectrographic technique was developed to estimate 16 trace elements in some samples of Egyptian granite. The detection limits were: ffl ppm for Pb, Ba, Mo, Cth Cr, Yb and Ni, 0"3 ppm for Sn, Ga and Be, 1 ppm for Co, Sc and V, 3 ppm for Bi and Y and 10 ppm for La. The relative deviation oftbe two-thirds limits ranges between-I-1.5 and + 24.7.