The evolution of the film structure of polyimide PM-A (Kapton H type) after deformation at T = 300K, the effect of low temperatures and subsequent deformation at liquid nitrogen and liquid helium temperatures is studied. Particular attention is paid to comparative analysis of structural changes in the process of various external influences. The starting material was a film synthesized from solutions of prepolymers with a thickness of 0.08 mm. Part of the samples were subjected to a successively of temperature deformation and uniaxial deformation. For the original samples, we observed a symmetrical halo on the x-ray diffraction pattern on the small angles. The cooling of the polyimide film at T = 77 K 4.2K leads to the appearance of an additional peak in the region of smaller angles. The deformation of the sample at room temperature leads to the appearance of an additional peak in the region of large angles. Low-temperature deformation at temperatures of liquid nitrogen and liquid helium affects the structural state of the samples in different ways. Proposed two "mechanism", which are qualitatively, describe the processes in this polyimide films after deformation at low temperatures. It is assumed that as a result of cooling, "bundles" are formed, consisting of a different number of polymer segments. Low-temperature deformation at 77K and 4.2K, respectively, leads to compression and rupture of these bundles. KEYWORDS: polyimide, deformation, X-ray diffractometry, ordering Харків, Україна В роботі вивчено еволюцію структури плівки полііміда ПМ-А (типу Kapton H) після деформації при Т = 300К, впливу низьких температур і подальшої деформації при температурах рідкого азоту і рідкого гелію. Особлива увага в роботі приділена порівняльному аналізу змін структури в процесі різних зовнішніх впливів. Вихідним матеріалом служила плівка, синтезована з розчинів форполимера товщиною 0,08 мм. Частина зразків була піддана послідовно температурній деформації і одноосьовій деформації. На дифрактограмі спостерігається широкий пік (гало) тільки на малих кутах. Охолодження зразка (температурна деформація) до Т = 77К, Т = 4,2К тягне за собою появу додаткового піку з боку малих кутів. Однак, деформація при Т = 300К призводить до появи додаткового максимуму з боку більших кутів. Низькотемпературна деформація при температурах рідкого азоту і рідкого гелію по-різному впливає на структурний стан зразків. Наведено два можливих механізми зміни структури в результаті спільного впливу деформації і низьких температур. Передбачається, що в результаті охолодження утворюються «джгути», що складаються з різної кількості полімерних сегментів. Низькотемпературна деформація при 77К і 4,2К призводить, відповідно, до стиснення і розриву цих джгутів. КЛЮЧОВІ СЛОВА: поліімід, деформація, рентгенівська дифрактометрія, впорядкування Харьков, Украина В работе изучена эволюция структуры пленки полиимида ПМ-А (типа Kapton H) после деформации при Т=300К, воздействия низких температур и последующей деформации при температурах жидкого азота и жидкого гелия. Особо...
