(q = 1, 2, 3) ЕЛЕКТРОННИМ УДАРОМ У даній роботі оцінена можливість пояснення C2-фрагментації іонів фулерену C60 q+ (q = 1, 2, 3) електронним ударом у рамках "одночастинкового" підходу, на основі розрахунків перерізів розсіяння е − C. При цьому перерізи прямої іонізації обчислювалися за формулою Лотца для оболонок 2p, 2s та подвійної іонізації з 2p-оболонки. Сумарний переріз збудження з основного стану вуглецю 2s 2 2p 2 3 P у 27 вище розміщених станів був розрахований методом R-матриці з B-сплайнами. Ключові слова: C2-фрагментація, іони фулерену C60 q+ , атом вуглецю, розсіяння електронів, метод R-матриці з B-сплайнами, перерізи розсіяння.