Методом каналирования ионов исследованы образцы карбида кремния, синтезированные из кремния методом топохимического замещения атомов. Результаты анализа однозначно доказывают наличие структурной гетероэпитаксии. Решетка синтезируемого карбида кремния гексагонального политипа 6H эпитаксиально согласована в направлении <0001> с решеткой исходного кремния подложки в направлении <111>. Выявлены основные особенности структурного самосогласования в этом эпитаксиальном гетерокомпозите. Несмотря на очень большое несоответствие параметров решеток карбида кремния и кремния, плотность дислокаций несоответствия на границе раздела невелика, что является особенностью метода топохимического замещения атомов, приводящего к соизмеримым структурам. В.К.Е и Е.В.E выражают благодарность за финансовую поддержку РФФИ (проекты N 15-08-02618-а и 16-07-00665), С.А.К. и А.В.О. выражают благодарность за финансовую поддержку РНФ (грант N 14-22-00018). DOI: 10.21883/FTT.2017.04.44279.261

Кратко описаны явление полного внешнего отражения (ПВО) потоков квазимонохроматического рентгеновского излучения на материальном интерфейсе, эффект волноводно-резонансного распространения этих потоков в наноразмерных протяженных щелевых зазорах, а также устройство, функционирующее на базе этого эффекта: плоский рентгеновский волновод-резонатор (ПРВР). Представлены экспериментальные данные по формированию потока рентгеновских лучей составным плоским волноводом-резонатором (СПРВР) и предложена модель, описывающая снижение угловой расходимости формируемого потока без уменьшения интегральной интенсивности. Модель основана на концепции частичного углового туннелирования радиационного потока в промежутке между двумя последовательно установленными и взаимно съюстированными волноводами-резонаторами, которое реализуется вследствие взаимодействия интерференционных полей стоячих рентгеновских волн, возбужденных излучением, транспортируемым щелевыми зазорами этих волноводов-резонаторов.

We show how the combined use of the methods of Rutherford backscattering of ions and X-ray fluorescence analysis under conditions of total external reflection of the flow of exciting hard X-ray radiation and registration of the X-ray radiation output during ion excitation allows to effectively diagnose the elemental composition of thin-film coatings and films of dry residues of liquids. These methods and the features of their experimental application are briefly described. Examples of the complex methodological analysis of real objects are given. The possibility of increasing the efficiency of the methods of X-ray fluorescence analysis of materials due to the inclusion in the X-ray optical schemes of experimental measurements of flat X-ray waveguide resonators is indicated.