Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» проспект Перемоги, 37, Київ, 03056, Україна 2 Черкаський державний технологічний університет бульвар Шевченка, 460, Черкаси, 18006, Україна ОСОБЛИВОСТІ ПРОВЕДЕННЯ ДОСЛІДЖЕНЬ МІКРОГЕОМЕТРІЇ ТА ПОВЕРХНЕВИХ ВЛАСТИВОСТЕЙ ДІЕЛЕКТРИЧНИХ МАТЕРІАЛІВ ДЛЯ МІКРО-І НАНОЕЛЕКТРОНІКИ У статті коротко розглянуті особливості проведення дослідження мікрогеометрії і поверхневих властивостей діелектричних матеріалів для мікро-і наноелектроніки із застосуванням методу АСМ. Показано переваги та обмеження застосування цього методу для дослідження поверхні і поверхневих властивостей діелектриків.

Insect pest control requires fundamental knowledge of their physiology and behavioral responses. However, due to the small size of insects, in general, and their sensory formations (sensilla), in particular, the study of the physiology of insect sensory systems has until recently been limited by insufficient accuracy and selectivity of experimental mechanical action. To eliminate this gap in the study of insects, a physical technology is proposed based on a micromechanical device - microtweezers based on a layered structural composite of Ti50Ni25Cu25 alloy with a shape memory effect (SME), combined with a temperature control system and a three-coordinate piezoelectric micropositioner. Microtweezers with SME selectively capture the smallest sensilla of the studied insects, enabling their precise mechanical stimulation with simultaneous recording of physiological responses generated by sensilla using methods of impulse derivation in the nerve centers of the insect.