“…O processo de fabricação das placas utilizou os mesmos parâmetros que usualmente são usados para a confecção da estrutura suporte do acetato As superfícies das placas sem e com selante, nas diversas composições testadas, foram observadas por estéreo microscopia, microscopia óptica (MO) 12,13 e por eletrônica de varredura (MEV) 12,14 , respectivamente através dos microscópios Olympus modelo 8ZX16, Zeiss modelo M2m e Hitachi modelo TM3000, este último operando a 15kV. Análise e mapeamento dos elementos químicos [15][16][17][18] presentes foi realizada por espectroscopia por dispersão de energia (Energy Dispersive Spectroscopy -EDS) [19][20][21][22][23] utilizando-se um detector X Flash MIN SVE fabricado pela Bruker acoplado ao MEV.…”