2016
DOI: 10.1016/j.vibspec.2016.09.021
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Analysis by raman spectroscopy and XRF of glass beads from excavations in the harbor area of rio de janeiro, Brazil

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“…O processo de fabricação das placas utilizou os mesmos parâmetros que usualmente são usados para a confecção da estrutura suporte do acetato As superfícies das placas sem e com selante, nas diversas composições testadas, foram observadas por estéreo microscopia, microscopia óptica (MO) 12,13 e por eletrônica de varredura (MEV) 12,14 , respectivamente através dos microscópios Olympus modelo 8ZX16, Zeiss modelo M2m e Hitachi modelo TM3000, este último operando a 15kV. Análise e mapeamento dos elementos químicos [15][16][17][18] presentes foi realizada por espectroscopia por dispersão de energia (Energy Dispersive Spectroscopy -EDS) [19][20][21][22][23] utilizando-se um detector X Flash MIN SVE fabricado pela Bruker acoplado ao MEV.…”
Section: Metodologiaunclassified
“…O processo de fabricação das placas utilizou os mesmos parâmetros que usualmente são usados para a confecção da estrutura suporte do acetato As superfícies das placas sem e com selante, nas diversas composições testadas, foram observadas por estéreo microscopia, microscopia óptica (MO) 12,13 e por eletrônica de varredura (MEV) 12,14 , respectivamente através dos microscópios Olympus modelo 8ZX16, Zeiss modelo M2m e Hitachi modelo TM3000, este último operando a 15kV. Análise e mapeamento dos elementos químicos [15][16][17][18] presentes foi realizada por espectroscopia por dispersão de energia (Energy Dispersive Spectroscopy -EDS) [19][20][21][22][23] utilizando-se um detector X Flash MIN SVE fabricado pela Bruker acoplado ao MEV.…”
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