Approach to building inspection tests of digital devices on extra large integrated circuits

Abstract

Розглядається проблема скорочення перебору при побудові повних тестів перевірки цифрових пристроїв, розроблених із використанням надвеликих інтегральних схем. Процес побудови тесту для заданої несправності приводиться до вигляду пошуку термінальної вершини в дереві призначення сигналів. Для скорочення перебору пропонується застосовувати метод сфокусованого пошуку, розроблений як загальнотеоретичний метод пошуку рішення в системах продукційного типу. Описано результати експериментів із комбінаційними схемами. Аннотация: Рассматривается проблема сокращения перебора при построении полных проверяющих тестов для цифровых устройств, разработанных с использованием сверхбольших интегральных схем. Процесс построения теста для заданной неисправности приводится к виду поиска терминальной вершины в дереве назначения сигналов. Для сокращения перебора предлагается применять метод сфокусированного поиска, разработанный как общетеоретический метод поиска решения в системах продукционного типа. Описаны результаты экспериментов с комбинационными схемами.