XPS valence band spectra reflect the electronic density of states weighted with cross-sections. The spectra will give additional information about the symmetry of the electron wave function, if they are measured in dependence on the electron emission angles. VaIence band spectra of SnS, SnSe, SnTe, and SnS, are measured partly in dependence on the polar angle 8. These measurements allow an identification of the symmetry of valence orbitals from intensity variations of the valence band maxima.XPS-Valenzbandspektren bilden die mit Wirkungsquerschnitten gewichtete elektronische Zustandsdichte ah. Werden die Spektren in Abhangigkeit von den Elektronenemissionswinkeln aufgenommen, so liefern sie zusatzliche Informationen iiber die Symmetrie der Elektronenwellenfunktion. Von SnS, SnSe, SnTe und SnS, werdenteils in Abhangigkeit vom Polarwinkel 8die Valenzbandspektren gemessen. Diese Messungen ermoglichen es, die Symmetrie der Valenzorbitale aus Intensit~ts~inderungen der Valenzhandmaxima zu hestimmen.