Проведено экспериментальное исследование анодного растворения низколегированного n-Si(100) в электролите, состоящем из 4% раствора HF в 30% перекиси водорода, при напряжении выше напряжения пробоя. Изучено влияние величины освещенности обратной стороны пластины на морфологию пористой структуры и на такие параметры, как пористость, эффективная валентность и скорость роста пор. Полученные данные сравниваются с данными для структур, подвергшихся фотоанодированию в водном электролите с той же концентрацией HF. Установлено, что наличие перекиси водорода значительно меняет морфологию макропор, уменьшает их диаметр и увеличивает в ∼ 2 раза скорость роста в глубь подложки. В присутствии H 2 O 2 наблюдается появление наклонных вторичных пор, ориентированных под углом 15−35 • к оси основного канала, и увеличение числа пробойных мезопор, распространяющихся в направлениях 100 в плоскости, параллельной поверхности образца. Эффективная валентность электрохимического растворения кремния в электролите HF : H 2 O 2 при низком уровне подсветки близка к единице и возрастает с интенсивностью света, оставаясь всегда меньше 2.