DOI: 10.47749/t/unicamp.2017.988102
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Formação e caracterização de filmes de silício amorfo hidrogenado depositado por ECR-CVD

Abstract: A ata de defesa, com as respectivas assinaturas dos membros da Comissão Julgadora, encontrase no processo de vida acadêmica do aluno.Dedico este trabalho à minha mãe Frâncis, ao meu pai Chertertom, à minha avó Maria Júlia e à minha irmã Natália, que me ajudaram e me deram suporte durante toda a minha jornada Agradecimentos Gostaria de agradecer primeiramente aos meus pais, Frâncis e Chertertom, minha irmã Natália e minha avó Maria Júlia, por toda a ajuda durante a minha graduação e durante o meu mestrado.A don… Show more

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