Multifractal analysis of ITO thin films prepared by electron beam deposition method

Multifractal analysis for Cu/Ti bilayer thin films

“…[16,21] The extended relation of Rq and Ra to surfaces digitally measured with N points in both directions are given as:…”

Peculiarity of Forming Transparent Conducting Films on Basis of Oxides Indium-Tin for Contacts on Gan-Based Light Emitting Diodes

“…2). Это хорошо согласуется с результатами, полученными в других работах, в которых режим отжига мог варьироваться в широких пределах -от кратковременного отжига при высоких температурах [3][4][5][6] до низкотемпе-ратурного отжига в течение длительного времени: до 1000 мин при 125-165 °C [11] и 30-60 мин при 200-300 °C [10,15,16].…”

“…Однако его опти-мальные условия (температура, атмосфера, продолжительность), по данным разных источников, различны и часто противоречат друг другу. Например, в работах [4,5,13] использовали отжиг в азоте, а в работах [10,[14][15][16][17] -отжиг в кислороде или на воздухе. В рабо-тах [4][5][6] применяли кратковре-менный отжиг (несколько минут) при высоких температурах 550-600 °С, а в работах [10,11,[14][15][16][17] -длительный (десятки минут или несколько часов) при сравнительно низких температурах 200-350 °С.…”

“…Поэтому трудно сопоставлять режимы. Кроме того, существуют и отдельные техноло-гические особенности используе-мых процессов, одна из которых -испарение ITO в вакууме [5,6,9,11] или с напуском кислорода в камеру [4,[13][14][15][16][17].…”

Investigation of the Surface Properties of Diamond-Like Carbon Films Using Multifractal Analysis

“…Coordinates of the pixels on the plane are numbers of rows and columns of pixels in the matrix (by which the image represented in digital form) and also are a set of integers. Thus, using the color characteristics of pixels as the usual number, we can imagine a flat image of the surface topography in three dimensions [3,7,[10][11][12][13][14][15]. Examples of such structures may be three-dimensional digital images of the surface of materials obtained by AFM (atomic force microscope) (Fig.1).…”