Probe Microscopy and Electron-Transport Properties of Thin Mo Epitaxial Films on Sapphire

Исследованы тонкопленочные покрытия, образующиеся при термоэмиссионном распылении ряда металлов и сплавов в вакуумной камере в условиях вакуума, приближенного по параметрам к космическому вакууму на орбитах созданного в России первого в мире космического сканирующего туннельного микроскопа, исполненного в виде спутника Земли с автономным питанием и запущенного летом 2023 года в целях набора статистики по размерам и плотности микро- и наночастичек пыли и метеоритов на орбитах Земли. Ввиду отсутствия ранее научного интереса к напылениям в невысоком вакууме из-за плохой чистоты полученных покрытий новые данные по покрытиям являются уникальными и востребованными ввиду необходимости наличия проводимости поверхности наблюдаемых в сканирующем туннельном микроскопе объектов. Сделаны выводы о применимости некоторых металлов и сплавов к напылению для работы сканирующего туннельного микроскопа в космосе.

show abstract

scite is a Brooklyn-based organization that helps researchers better discover and understand research articles through Smart Citations–citations that display the context of the citation and describe whether the article provides supporting or contrasting evidence. scite is used by students and researchers from around the world and is funded in part by the National Science Foundation and the National Institute on Drug Abuse of the National Institutes of Health.

Contact Info

customersupport@researchsolutions.com

10624 S. Eastern Ave., Ste. A-614

Henderson, NV 89052, USA

This site is protected by reCAPTCHA and the Google Privacy Policy and Terms of Service apply.

Blog Terms and Conditions API Terms Privacy Policy Contact Cookie Preferences Do Not Sell or Share My Personal Information

Made with 💙 for researchers

Part of the Research Solutions Family.

Probe Microscopy and Electron-Transport Properties of Thin Mo Epitaxial Films on Sapphire

Cited by 2 publications

References 24 publications

Comparison of STM and AFM Measurements of Mo Thin Films with the Kardar–Parisi–Zhang Model

Comparison of STM and AFM Measurements of Mo Thin Films with the Kardar–Parisi–Zhang Model

Contact Info

Product

Resources

About