“…Este esquema é mostrado na equação 2, abaixo: demonstrando-se, assim, uma cinética de saturação, onde a relação entre a velocidade de reação e a concentração de substrato é estabelecida na equação de Michaelis-Menten (GOLICNIK, 2011a;2011b). (CHOE et al, 2012;KOSTIAINEN et al, 2003;WU et al, 2013 como: a varredura dos íons produto ("product-ion scan"), varredura dos íons precursores ("precursor-ion scan"), varredura da contante perda de íons neutros ("constant-neutral-loss scan") e o monitoramento seletivo de reação ("selectedreaction monitoring"). A EM/EM é amplamente empregada na detecção de compostos presentes em baixas concentrações em matrizes complexas, uma vez que possibilita um aumento na detectabilidade e reduz a interferência espectral de compostos presentes na matriz, além de aumentar a quantidade de informação estrutural que se pode obter (CHIARADIA, 2009;VESSECCHI et al, 2008;WU et al, 2013).…”