2001
DOI: 10.1021/jp002667d
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Scanning Electric Potential Microscopy Imaging of Polymer Latex Films:  Detection of Supramolecular Domains with Nonuniform Electrical Characteristics

Abstract: Scanning electric potential microscopy (SEPM) together with noncontact AFM images were obtained from the surfaces of two latex films: the first is a self-arrayed poly(styrene-co-hydroxyethyl methacrylate) macrocrystal, while the other is a thin film formed by coagulation of polystyrene particles at the latex liquid surface, under exposure to chloroform vapor. In both cases, large electric potential differences are detected by the microscope probe between adjacent domains in the films. Domains with positive or … Show more

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“…As imagens de KFM apresentam estruturas caroço-casca, sendo a casca mais positiva que o caroço. A associação da KFM com a ESI-TEM (Figura 2) permitiu a identificação dos portadores de cargas para o PShema: 19 as cargas negativas derivam do iniciador, sendo resíduos de persulfato incorporado às cadeias poliméricas, que são aprisionados no interior das partículas. Por outro lado, os contra-íons (potássio) ficam agregados na parte externa das partículas, formando uma casca com excesso de cargas positivas.…”
Section: Resultados Experimentais: Padrões Eletrostáticos Em Superfícunclassified
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“…As imagens de KFM apresentam estruturas caroço-casca, sendo a casca mais positiva que o caroço. A associação da KFM com a ESI-TEM (Figura 2) permitiu a identificação dos portadores de cargas para o PShema: 19 as cargas negativas derivam do iniciador, sendo resíduos de persulfato incorporado às cadeias poliméricas, que são aprisionados no interior das partículas. Por outro lado, os contra-íons (potássio) ficam agregados na parte externa das partículas, formando uma casca com excesso de cargas positivas.…”
Section: Resultados Experimentais: Padrões Eletrostáticos Em Superfícunclassified
“…Os padrões eletrostáticos foram inicialmente observados por microscopia de varredura de potencial elétrico, microscopia de sonda Kelvin (KFM) ou microscopia de força elétrica, que são nomes dados a técnicas de microscopias de varredura por sonda (SPM) 15,16 derivadas da microscopia de força atômica (AFM). Estes resultados foram associados a outros, de microscopia eletrônica de transmissão analítica baseada na espectroscopia de perda de energia de elétrons (EELS-TEM), mostrando que os excessos de carga estática em polímeros coloidais estão associados a excessos de concentração de cátions ou ânions, [17][18][19] como os íons K + , Na + e R-SO 4 -introduzidos durante o processo de polimerização em emulsão. 20 Relatos na literatura recente mostram padrões eletrostáticos sobre algumas superfícies de eletretos, obtidos através do acúmulo de cargas atribuído à transferência de íons na superfície.…”
Section: Eletrização De Materiaisunclassified
“…The distribution of chemical constituents throughout the particles and within each particle may be rather non-uniform thus accounting for non-uniformity of latex properties and also of films or bulk polymer [11] 2. Non-latex components are also detected, as observed in Fig.…”
Section: Resultsmentioning
confidence: 99%
“…However, large electric potential differences are observed between the microscope probe and adjacent domains in the films; domain sizes range from a few nanometers to hundreds of nanometers (Braga et al 2001).…”
Section: Results On Latex Particlesmentioning
confidence: 99%