The secondary software faults number evaluation based on correction of the experimental data exponential line approximation

Rudenko, Oleksandr; Odarushchenko, Oleg; Rudenko, Z.; Rudenko, Maryna

doi:10.1109/dessert.2018.8409164

Cited by 2 publications

(2 citation statements)

References 12 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…-оцінювання кількісних показників вторинних дефектів на часових інтервалах шляхом порівняння значень тренду дефектів з відповідними значеннями функції регресії [16,17].…”

Section: вступunclassified

“…У більшості досліджень, що стосуються надійності ПЗ, зокрема у роботах [16,17] виконано обґрунтування вибору і використання апроксимації експоненціальним трендом. Це обумовлюється експоненціальною складовою функцій ризику великої кількості МНПЗ.…”

Section: основна частинаunclassified

See 1 more Smart Citation

Алгоритм Визначення Кількості Вторинних Дефектів Програмних Засобів Шляхом Коригування Коефіцієнтів Апроксимуючого Полінома Другого Степеня

Rudenko¹,

Shefer²,

Ponochovniy³

2021

CNCS

View full text Add to dashboard Cite

У статті запропоновані процедури, які дозволяють визначити коригувальні коефіцієнти для апроксимації кривої зміни виявлених дефектів програмних засобів. Визначено, що при оцінюванні надійності програмних засобів не враховуються вторинні дефекти, які додатково вносяться в процесі тестування та відлагодження. Показаний вплив вторинних дефектів на характеристику надійності програмного забезпечення та якість програмних засобів в цілому. Наголошено на необхідності врахування вторинних дефектів при дослідженні часових рядів, у яких прояв таких дефектів виділяється з усього потоку подій; при імітаційному моделюванні відмов у складних апаратнопрограмних комплексах і системах; для модифікації функцій ризику при оцінювані надійності програмних засобів; при динамічному аналізі складних програмних систем на різних етапах їх життєвого циклу, включно з їх відлагодженням, модифікацією та супроводом. Показано, що зміщення графіка апроксимуючого полінома відносно полігону частот дефектів дозволяє провести кількісну оцінку вторинних дефектів. Обґрунтовано вибір поліному для апроксимації тренду дефектів у випадку оцінювання надійності програмних засобів моделями з функціями ризику, що містять складові другого ступеня. Наведено основні етапи послідовного зміщення лінії апроксимації у контексті алгоритму знаходження коригувальних коефіцієнтів. Обґрунтовано використання поправки Бесселя для вибірок полігону частот дефектів малого об’єму. Наведено приклад оцінювання кількості вторинних дефектів, що вносяться при відлагодженні програмних засобів за допомогою скоригованого тренду як полінома другого порядку

show abstract

Section: вступunclassified

Section: основна частинаunclassified