2013
DOI: 10.1299/jsmecmd.2013.26._1704-1_
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1704 First-Principles Analysis on Interaction of Dopant and Contamination Metal Atoms in Ge Crystals

Abstract: 【緒言】近年,LSI デバイスの小型化,高性能 化が急速に発展している. この技術動向におい て,Si よりもキャリア移動度が大きい Ge を Ge 薄膜/Si 基盤構造で利用する試みが始まって いる.Si 中において,不純物の制御技術はほ ぼ確立されているが,Ge 中において,不純物 の挙動に関する報告は少ない.また,これまで は Cu,Ni,Fe などがゲッタリングの対象であ ったが,デバイスの高性能化に伴い,Ti,Mo, Co,Ta,Pt などの新しい金属材料が用いられ るようになり,これらもゲッタリングの対象と なっている.以上の技術背景から,本研究では 第四~第五周期の金属について,Ge 中のドー パントとの相互作用を第一原理計算法により 解析した. 【計算方法】図 1 に示す 64 原子からなる Ge 結晶の計算セルにおいて,中心の Ge 原子 1 個 をドーパント(Ga,Sb)と置換し,2 つの格子間 サイト(T,H-site)あるいは Ge 原子の置換位 置に金属原子を配置して構造最適化を行い, 全 エネルギーを求めた.さらに,ドーパントと金 属の結合エネルギーE b を計算することで,ド ーパント… Show more

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