A built-in I/sub DDQ/ testing circuit

A current monitoring technique for I testing in digital integrated circuits

“…A suitable I DDQ testing architecture and a built-in current sensing (BICS) circuit are also presented to support the proposed technique. A preliminary study of this testing scheme has been presented in [33] while early experimental results were discussed in [34]. In the present work the trade-off among the circuit size, the BICS cost and the defective current resolution is analyzed and complete experimental results are provided.…”

Αναλογικές Τεχνικές Ελέγχου Ορθής Λειτουργίας CMOS Ολοκληρωμένων Κυκλωμάτων

“…Επίσης, προτείνονται μια κατάλληλη αρχιτεκτονική δοκιμής I DDQ καθώς και το αντίστοιχο ενσωματωμένο κύκλωμα ανίχνευσης ρεύματος για να υποστηρίξουν την προτεινόμενη τεχνική. Μια πρώτη μελέτη της τεχνικής αυτής έγινε στην εργασία [187], ενώ τα πρώτα πειραματικά αποτελέσματα παρουσιάστηκαν στην εργασία [188]. Επιπλέον, θα παρουσιαστεί ένα μοντέλο για τη θεωρητική μελέτη της τεχνικής το οποίο αποδείχθηκε ότι συμφωνεί με τα πειραματικά αποτελέσματα.…”