“…Se desarrolló un montaje experimental con el que se realizaron ensayos de daño por radiación con protones de 10 MeV y fluencias entre 10 8 y 10 13 p/cm 2 sobre celdas de Si, multijuntura InGaP/GaAs/Ge y heterojuntura a-Si/c-Si, utilizando un haz externo del acelerador TANDAR del Centro Atómico Constituyentes de la CNEA, así como experiencias de radiación con electrones de 2,6 MeV en el acelerador LINAC del Centro Atómico Bariloche de la CNEA. En estas experiencias se midió in situ la curva característica corriente-tensión entre irradiaciones de cada una de las celdas estudiadas (Filevich et al, 2003). Asimismo, se realizaron simulaciones teóricas y mediciones experimentales con el fin de verificar la relación entre las características eléctricas de las celdas (corriente de cortocircuito, tensión a circuito abierto y factor de forma) y la vida media de los portadores minoritarios en la base, la cual se ve afectada directamente en este tipo de ensayo (Tamasi et al, 2002, Alurralde et al, 2004.…”