2012 38th IEEE Photovoltaic Specialists Conference 2012
DOI: 10.1109/pvsc.2012.6317836
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A cost-effective method for PV module field test using an electronic load

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“…Em geral, um Transistor de Efeito de Campo de Óxido de Metal Semicondutor (da sigla em inglês, MOS-FET) operando na região linear, pode ser usado como uma carga eletrônica para testar o painel, se comportando como uma resistência de carga equivalente, a qual consegue atender rápidas variações (Kuai and Yuvarajan, 2006). A carga eletrônica pode controlar a tensão, corrente ou potência de forma manual ou por comunicação, sendo possível analisar o desempenho dos painéis em campo ou em laboratório (Jin-Ho et al, 2012). Entretanto, a reprodução de pontos em torno da máxima potência exigem excessiva dissipação de energia, uma vez que os transistores operam em sua região linear (Duran et al, 2008).…”
Section: Introdu ç ãOunclassified
“…Em geral, um Transistor de Efeito de Campo de Óxido de Metal Semicondutor (da sigla em inglês, MOS-FET) operando na região linear, pode ser usado como uma carga eletrônica para testar o painel, se comportando como uma resistência de carga equivalente, a qual consegue atender rápidas variações (Kuai and Yuvarajan, 2006). A carga eletrônica pode controlar a tensão, corrente ou potência de forma manual ou por comunicação, sendo possível analisar o desempenho dos painéis em campo ou em laboratório (Jin-Ho et al, 2012). Entretanto, a reprodução de pontos em torno da máxima potência exigem excessiva dissipação de energia, uma vez que os transistores operam em sua região linear (Duran et al, 2008).…”
Section: Introdu ç ãOunclassified