A Low Cost C8051F006 SoC-Based Quasi-Static C-V Meter for Characterizing Semiconductor Devices

Abstract

AbstrakBerbasiskan SoC (system on-a-chip) C8051F006, -V dijamin oleh fungsi kalibrasi yang dikerjakan oleh program di PC dan diperoleh melalui proses kalibrasi konversi analog ke digital (ADC), konversi digital ke analog (DAC) pada SoC C8051F006, dan sumber tegangan yang dapat diprogram. Percobaan telah dilakukan pada kapasitor 33-pF dan 1000-pF serta tiga diode p-n didapatkan bahwa nilai kapasitor berada dalam rentang nilai tertentu dan diperoleh kurva C-V untuk dioda p-n. Kata Kunci: ADC, kuasi-statis, DAC, pengukur C-V, pengukur kapasitansi, SoC Abstract Based on a C8051F006 SoC (system on-a-chip), a simple and low cost quasi-static capacitancevoltage (C-V) meter was designed and developed to obtain C-V characteristics of semiconductor devices. The developed C-V meter consists of a capacitance meter, a programmable voltage source, a C8051F006