2001
DOI: 10.1016/s0892-6875(01)00185-6
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

A QEM*SEM study of a suite of pressure leach products from a gold circuit

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1

Citation Types

0
0
0
2

Year Published

2018
2018
2018
2018

Publication Types

Select...
2

Relationship

0
2

Authors

Journals

citations
Cited by 2 publications
(2 citation statements)
references
References 0 publications
0
0
0
2
Order By: Relevance
“…Altın cevherlerinin karakterizasyonunda kullanılan teknikler (Zhou vd., 2004;Zhou ve Cabri, 2004;Marsden ve House, 2006) Şekil 3. Mikro-analitik metotların özellikleri (Kossowsky, 1983;Marsden ve House, 2006) Bir elektron mikro-prob cihazı temelde bir elektron demeti, ikincil elektron (SE) dedektörü, geri saçınımlı elektron (BSE) dedektörü, EDS veya WDS dedektörü ile analizörden oluşmaktadır (Paktunç, 1996 (Goodal vd., 2005b(Goodal vd., ve 2012Latti, 2001;Andersen vd., 2009).…”
Section: Taramalı Elektron Mikroskobu Sistemleriunclassified
See 1 more Smart Citation
“…Altın cevherlerinin karakterizasyonunda kullanılan teknikler (Zhou vd., 2004;Zhou ve Cabri, 2004;Marsden ve House, 2006) Şekil 3. Mikro-analitik metotların özellikleri (Kossowsky, 1983;Marsden ve House, 2006) Bir elektron mikro-prob cihazı temelde bir elektron demeti, ikincil elektron (SE) dedektörü, geri saçınımlı elektron (BSE) dedektörü, EDS veya WDS dedektörü ile analizörden oluşmaktadır (Paktunç, 1996 (Goodal vd., 2005b(Goodal vd., ve 2012Latti, 2001;Andersen vd., 2009).…”
Section: Taramalı Elektron Mikroskobu Sistemleriunclassified
“…Mikro-analitik metotların özellikleri (Kossowsky, 1983;Marsden ve House, 2006) Bir elektron mikro-prob cihazı temelde bir elektron demeti, ikincil elektron (SE) dedektörü, geri saçınımlı elektron (BSE) dedektörü, EDS veya WDS dedektörü ile analizörden oluşmaktadır (Paktunç, 1996 (Marsden ve House, 2006). (Goodal vd., 2005b(Goodal vd., ve 2012Latti, 2001;Andersen vd., 2009). Bu sistemde taneler BSE (back scattered electron) parlaklıklarıyla belirlenirler.…”
Section: Mi̇kro-anali̇ti̇k Yöntemlerunclassified