В статье приведены результаты измерений профилей ионной температуры и концентрации ядер примесей, выполненных с помощью модернизированной активной спектроскопической диагностики (CXRS) токамака Т-10. Показано совпадение радиальных профилей ионной температуры, измеренных по линиям различных примесей. Продемонстрировано заметное отличие температуры ядер примесей от температуры, определяемой из уширения линии атомов рабочего газа (дейтерия), что может быть связано с влиянием эффекта «гало». Проведены измерения профилей и абсолютных величин концентраций ядер одновременно двух основных примесей (углерод, кислород) плазмы Т-10 в широком диапазоне параметров плазмы, в том числе при ЭЦР-нагреве. Приводятся результаты, демонстрирующие аккумуляцию ядер лёгких примесей у оси шнура в омических разрядах Т-10 с высокой плотностью и низкими токами плазмы. В экспериментах с ЭЦР-нагревом наблюдается эффективное удаление примесей из центральной зоны. Демонстрируется пример одновременных измерений динамики ядер основных примесей плазмы при импульсной инжекции дополнительной примеси. Модернизированная CXRS-диагностика Т-10 обеспечивает получение необходимых данных для изучения электрических полей, переноса тепла и частиц в плазме, а также исследования свойств геодезических акустических мод (ГАМ) плазменных колебаний на Т-10.Ключевые слова: токамак Т-10, активная спектроскопия, ионная температура, концентрация ядер, CXRS, ГАМ.