“…La principal diferencia en relación con el análisis mediante difracción de rayos X convencional es que la radiación sincrotrón es radiación X de alta energía, por lo que posee mayor poder de penetración permitiendo, además, la determinación de tensiones internas en volúmenes sensiblemente más pequeños. Se ha investigado el perfil de las tensiones residuales en una región adyacente a la superficie, con una profundidad de hasta unas 50 µm, utilizando el método puesto a punto por Genzel et al [14] . Mediante éste método, es posible determinar, para medidas realizadas a diferentes ángulos de la muestra en un plano perpendicular al plano de difracción, las tensiones a distintas profundidades a partir de la información suministrada por los diferentes picos de difracción.…”