“…Se puede observar que los picos de los patrones DRX de los recubrimientos producidos se localizan entre los picos del ZrN y TiN, con valores 2θ de 34,76°, 40,15° y 73,13°, correspondiendo con los planos (111), (200) y (222) de la fase (Ti,Zr)N con estructura cristalina FCC. Estos valores concuerdan con la tarjeta JCPDS 89-5214 y trabajos previos donde estudian recubrimientos de TiZrN (Kaliaraj, et al, 2015;Chinsakolthanakorn, et al, 2012) y TiZrSiN Saladukhin, et al, 2015b), ambos depositados por co-sputtering reactivo.…”