2016
DOI: 10.15407/mfint.38.03.0329
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Charge Transport in Polycrystalline Films of a Palladium of Nanometre Thickness

Abstract: Експериментальні залежності «питома електропровідність-товщина шару» «заморожено конденсованих» ультратонких плівок паладію кількісно описано на основі теорій квазикласичного та квантового розмірних ефектів. Тонкі плівки паладію було препаровано та досліджено в умовах надвисокого вакууму. Плівки наносили на поверхню скляних підкладинок та скляних підкладинок, попередньо покритих підшаром ґерманію масовою товщиною у 0,5 нм. Експериментальні дані добре узгоджуються з результатами теоретичних розрахунків, які вра… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1

Citation Types

0
0
0
1

Year Published

2016
2016
2017
2017

Publication Types

Select...
3
1

Relationship

1
3

Authors

Journals

citations
Cited by 4 publications
(1 citation statement)
references
References 12 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…Зокрема, величина U, що характеризує енергетичну залежність вільного пробігу (в мо-делі вільних електронів U2), згідно з оцінками різних авторів, приймає значення від 18,7 до 2,3. Результати досліджень електро-провідності плівок міді, одержані в [26,27], добре узгоджуються з даними робіт [28,[29][30][31]. Зокрема, це стосується оцінки величин, що характеризують параметри поверхневих макроскопічних неод-норідностей та ймовірності міжзеренного тунелювання носіїв стру-му t. Величини t, розраховані в [8,12], також добре узгоджуються з даними роботи [32], в якій здійснено оцінку ймовірності розсіюван-ня носіїв струму в масивних полікристалічних зразках міді.…”
Section: 9unclassified
“…Зокрема, величина U, що характеризує енергетичну залежність вільного пробігу (в мо-делі вільних електронів U2), згідно з оцінками різних авторів, приймає значення від 18,7 до 2,3. Результати досліджень електро-провідності плівок міді, одержані в [26,27], добре узгоджуються з даними робіт [28,[29][30][31]. Зокрема, це стосується оцінки величин, що характеризують параметри поверхневих макроскопічних неод-норідностей та ймовірності міжзеренного тунелювання носіїв стру-му t. Величини t, розраховані в [8,12], також добре узгоджуються з даними роботи [32], в якій здійснено оцінку ймовірності розсіюван-ня носіїв струму в масивних полікристалічних зразках міді.…”
Section: 9unclassified