“…이상치 탐지(novelty detection)는 하나의 정상집단을 특성화하 는 모델을 학습시킨 후 새로운 관측치와의 비교를 통해 새로 운 관측치의 비정상 여부를 확인하는 기계 학습 기법으로 (Kang et al, 2012) 사기 탐지 (Issa and Miklos, 2011;Thiprungsri and Miklos, 2011), 침입 탐지 (Kumar et al, 2005), 의료 (Tarassenko et al, 2006), 제조공정 과정 (Clifton et al, 2008) 등 다양한 분야에 서 응용되고 있다. 특히 제조 공정 과정에서 불량 제품으로 인한 재작업 증가는 효율성을 감소시키는 주요 원인으로 TFT-LCD 나 PCB와 같은 하이테크 산업에서 이상치 탐지는 중요한 문제 로 인식되고 있다 (Shin, 2010).…”