2015
DOI: 10.1049/el.2015.2325
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Continuous‐wave lasing at 100°C in 1.3 µm quantum dot microdisk diode laser

Abstract: A 31 µm in diameter microdisk laser with an InAs/InGaAs quantum dot active region has been tested in the continuous-wave regime at elevated temperatures. Lasing is achieved up to 100°C with a threshold current of 13.8 mA. The emission spectrum demonstrates single-mode lasing at 1304 nm with a side mode suppression ratio of 24 dB and a dominant mode linewidth of 35 pm.

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3
1

Citation Types

0
12
0
7

Year Published

2016
2016
2024
2024

Publication Types

Select...
8

Relationship

0
8

Authors

Journals

citations
Cited by 39 publications
(19 citation statements)
references
References 5 publications
0
12
0
7
Order By: Relevance
“…Zhukov 1,2 , E.I. Moiseev 1 , N.V. Kryzhanovskaya 1,2 Abstract Microdisk lasers with a diameter of 10−30 µm, operating at room temperature without thermal stabilization, with an active region based on nanostructures of hybrid dimensionality (quantum well−dots) are studied. Measurements of the highfrequency small-signal modulation response of the microlasers were carried out for evaluation of the dynamic characteristics and their analysis as a function of the microlaser diameter.…”
Section: Estimation Of the Surface Recombination Impact In Microdisk mentioning
confidence: 99%
See 2 more Smart Citations
“…Zhukov 1,2 , E.I. Moiseev 1 , N.V. Kryzhanovskaya 1,2 Abstract Microdisk lasers with a diameter of 10−30 µm, operating at room temperature without thermal stabilization, with an active region based on nanostructures of hybrid dimensionality (quantum well−dots) are studied. Measurements of the highfrequency small-signal modulation response of the microlasers were carried out for evaluation of the dynamic characteristics and their analysis as a function of the microlaser diameter.…”
Section: Estimation Of the Surface Recombination Impact In Microdisk mentioning
confidence: 99%
“…Полупроводниковые микродисковые лазеры привлекают значительное внимание в качестве источников излучения для систем оптической связи, существенно более простых в изготовлении по сравнению с вертикальноизлучающими лазерами. Эпитаксиальная гетероструктура, используемая для изготовления микродискового лазера [1,2], близка к применяемой для создания торцевых лазеров традиционной конструкции, поскольку высокая добротность при малых размерах резонатора достигается в микродисковом лазере не за счет толстых распределенных брэгговских отражателей, а в результате отражения света от боковых граней. В связи с малыми латеральными размерами в микродисковых лазерах важную роль приобретает проблема безызлучательной рекомбинации носителей заряда на боковых стенках резонатора, формируемых, как правило, глубоким травлением сквозь волновод и активную область.…”
Section: Introductionunclassified
See 1 more Smart Citation
“…Первая состоит в со-здании монолитных полупроводниковых гетероструктур с распределенными брэгговскими отражателями (РБО) на основе пары материалов GaAs/AlGaAs, с упругона-пряженными квантовыми ямами GaInAsN/GaAsN [1][2][3][4][5][6][7], GaInNAsSb/GaNAsSb [8][9][10][11][12] или квантовыми точками InAs/InGaAs [13][14][15][16][17][18][19]. Такие гетероструктуры выращи-ваются на подложках GaAs.…”
Section: Introductionunclassified
“…Однако в случае микродисковых лазеров с активной областью, представляющей собой массив самоорганизующихся квантовых точек (КТ), влияние безызлучательной рекомбинации оказывается не столь значительным. В пользу этого свидетельствуют низкие пороговые плотности тока (250 A/cm 2 [4]) и высокая предельная температура генерации (100 • C [5]). Считается, что нечувствительность микролазеров на основе КТ к поверхностной рекомбинации обусловлена подавлением латерального транспорта носителей заряда в плоскости КТ [6].…”
unclassified