Defect-oriented BIST quality analysis

Genetic algorithm for constructing functional tests of arithmetic logic units

“…Однако с ростом сложности ЦУ эффективность такого похода снижалась. Поэтому для систем-на-чипе был предложен иной подход -встроенное самотестирование [2,5]. Основная идея подхода -использовать ресурсы системы по хранению и подаче тестовых наборов на тестируемое вычислительное ядро.…”