Development of an Industrial Diamond Scanning System

Abstract

Разработана система по сканированию драгоценных камней с помощью лазерного излучения. Составлена схема разработанной лазерной сканирующей установки. Проведен обзор дефектов, которые наиболее часто встречаются в кристаллах драгоценных камней и способны помочь в создании карты дефектов кристалла. Приведено описание методики, которая используется в создании паспорта изделия. Были установлены минимальные размеры объектов, которые мы сможем обнаружить с помощью данной установки. Рассчитана вероятность достоверного обнаружения дефекта в исследуемом объекте. Выявлены необходимые маркеры для установления уникальности драгоценного камня. Проведены эксперименты, где использовались полупроводниковые лазеры с длинами волн 405 и 532 нм. В результате было выяснено, что установка работает исправно и способна составлять карту дефектов прозрачных в оптической области объектов. Для повышения эффективности установки была составлена готовая база данных, в нее вошли наиболее распространенные дефекты, которые можно обнаружить в драгоценных камнях. Для удобного и быстрого поиска дефектов по базе данных была предложена иерархическая система упорядочивания дефектов. После сканирования кристалла получившиеся данные заносятся в личный паспорт изделия, что позволит в дальнейшем его идентифицировать.