2007
DOI: 10.1109/mwsym.2007.380102
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Dielectric Charging of RF MEMS Capacitive Switches under Bipolar Control-Voltage Waveforms

Abstract: Abstract-To design and validate accelerated life tests of RF MEMS capacitive switches, acceleration factors of charging effects in switch dielectric were quantitatively characterized. From measured charging and discharging transient currents at different temperatures and control voltages, densities and time constants of dielectric traps were extracted. A charging model was constructed to predict the amount of charge injected into the dielectric and the corresponding shift in actuation voltage under different a… Show more

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
2
1
1

Citation Types

1
30
0
2

Year Published

2007
2007
2017
2017

Publication Types

Select...
4
2
2

Relationship

1
7

Authors

Journals

citations
Cited by 45 publications
(33 citation statements)
references
References 25 publications
1
30
0
2
Order By: Relevance
“…The charge control method is implemented using a precision impedance analyzer, which performs the capacitance measurements and also applies the subsequent excitation waveform, BIT0 and BIT1, according to (3).…”
Section: Resultsmentioning
confidence: 99%
See 1 more Smart Citation
“…The charge control method is implemented using a precision impedance analyzer, which performs the capacitance measurements and also applies the subsequent excitation waveform, BIT0 and BIT1, according to (3).…”
Section: Resultsmentioning
confidence: 99%
“…In recent years, smart actuation techniques and strategies to mitigate or control the effects of dielectric charging in MEMS capacitors have been proposed [3]- [8]. Closed-loop strategies are inspired by sigma-delta (⌃ ) modulation: they trace a certain characteristic of the MEMS that is related to the dielectric charge and dynamically apply correcting feedback stimuli.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…C URRENTLY, the life time of electrostatically actuated RF microelectromechanical system (MEMS) capacitive switches is primarily limited by dielectric charging, which can cause actuation-voltage shift or, ultimately, stiction [1]- [25]. Experimentally, the dielectric charging phenomenon has been investigated by monitoring shifts in RF transmission characteristics [24], electrostatic and adhesion forces [14], capacitance-voltage characteristics [2]- [6], [8]- [11], [16], and current-voltage characteristics [7], [17], [18], [20], [25] with an increasing level of physical understanding.…”
Section: Introductionmentioning
confidence: 99%
“…Διάφορες κυματομορφές της τάσης ενεργοποίησης έχουν δοκιμαστεί [8], [29], [30], ώστε η μέση τιμή του παγιδευμένου φορτίου να είναι σχεδόν μηδενική και η ολίσθηση της C-V χαρακτηριστικής να είναι επίσης μικρή. Όμως και σε αυτές τις περιπτώσεις βρέθηκε ότι μικραίνουν τα παράθυρα pull-in και pull-out ενώ η τιμή της ελάχιστης χωρητικότητας Cup αυξάνεται [31], [32] και οι διακόπτες παραμένουν μόνιμα στην κατάσταση ΟΝ λόγω φόρτισης των υμενίων, έπειτα από κάποιο χρόνο λειτουργίας (Σχήμα 1.10).…”
Section: η επίδραση της πόλωσης των διηλεκτρικών υμενίων στη λειτουργunclassified
“…Αυτή η διαφοροποίηση της φόρτισης των υμενίων με την πολικότητα του πεδίου πόλωσης εξηγεί την καταστροφή των διακοπτών RF MEMS λόγω φόρτισης όταν εφαρμόζεται διπολική τάση ενεργοποίησης [29], καθώς αλλάζοντας την πολικότητα του πεδίου πόλωσης παγιδεύεται αντίθετο φορτίο διαφορετικού μεγέθους με αποτέλεσμα το συνολικό παγιδευμένο φορτίο να μην είναι μηδέν. …”
unclassified