DOI: 10.11606/d.85.2009.tde-05112009-101845
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Dosimetria de processos de irradiação gama com diodos comerciais de silício

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...

Citation Types

0
0
0
1

Publication Types

Select...
1

Relationship

1
0

Authors

Journals

citations
Cited by 1 publication
(1 citation statement)
references
References 18 publications
0
0
0
1
Order By: Relevance
“…A taxa de dose neste irradiador foi determinada com dosímetro químico de Fricke e rastreada pela IAEA como mencionado no irradiador Panorâmico. Embora estes irradiadores apresentem diferentes configurações de irradiação[103], a grande variedade nas taxas de dose permite a verificação dos limites operacionais do diodo, mediante medidas estáveis de correntes máximas e mínimas.Adicionalmente, o diodo foi utilizado para mapear as taxas de dose na câmara de irradiação do irradiador Panorâmico. Neste mapeamento, com deslocamento angular total de 360º, o diodo foi fixado a 10 cm acima da mesa às distâncias de 10, 20, 30 e 40 cm da fonte de Cobalto-60.…”
unclassified
“…A taxa de dose neste irradiador foi determinada com dosímetro químico de Fricke e rastreada pela IAEA como mencionado no irradiador Panorâmico. Embora estes irradiadores apresentem diferentes configurações de irradiação[103], a grande variedade nas taxas de dose permite a verificação dos limites operacionais do diodo, mediante medidas estáveis de correntes máximas e mínimas.Adicionalmente, o diodo foi utilizado para mapear as taxas de dose na câmara de irradiação do irradiador Panorâmico. Neste mapeamento, com deslocamento angular total de 360º, o diodo foi fixado a 10 cm acima da mesa às distâncias de 10, 20, 30 e 40 cm da fonte de Cobalto-60.…”
unclassified