2015
DOI: 10.1080/00150193.2015.1012419
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

E-Beam Recording of Domain Structures on the Nonpolar Surface of LiNbO3Crystals at Different SEM Voltages and Their Investigation by PFM and SHG Microscopy

Abstract: The e-beam recording of planar domains on the Y-face of LiNbO 3 crystal was performed with an e-beam of different energies. The combination of etching, AFM and confocal SHG microscopy provided more full characterization of the fabricated planar microdomain patterns. New data were obtained on the dependence of domain formation on the irradiation conditions. It is shown that the thickness of planar domains can be affected by varying e-beam energies.

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
1
1

Citation Types

0
0
0
2

Year Published

2018
2018
2023
2023

Publication Types

Select...
6

Relationship

0
6

Authors

Journals

citations
Cited by 10 publications
(2 citation statements)
references
References 22 publications
0
0
0
2
Order By: Relevance
“…Соответствующие схемы роста доменов на Y -и Z-срезах показаны на рис. 1, a, b. При облучении неполярного (Y ) среза домены, зарождающиеся в точке облучения, растут в поверхностном слое в направлении +Z под действием тангенциальной составляющей поля пространственного заряда E z (r); толщина поверхностного слоя определяется энергией облучающих электронов [25]. Доменные решетки в Y -срезах записывались путем локальных облучений поверхности при перемещении луча вдоль Xи Z-направлений [25].…”
Section: методы формирования и особенности визуализации доменных струunclassified
See 1 more Smart Citation
“…Соответствующие схемы роста доменов на Y -и Z-срезах показаны на рис. 1, a, b. При облучении неполярного (Y ) среза домены, зарождающиеся в точке облучения, растут в поверхностном слое в направлении +Z под действием тангенциальной составляющей поля пространственного заряда E z (r); толщина поверхностного слоя определяется энергией облучающих электронов [25]. Доменные решетки в Y -срезах записывались путем локальных облучений поверхности при перемещении луча вдоль Xи Z-направлений [25].…”
Section: методы формирования и особенности визуализации доменных струunclassified
“…За месяц ширина SE-изображений доменов уменьшилась и стала сопоставимой ширине доменов, определенной ранее методом латеральной PFM-микроскопии [38]. В хорошем согласии с измерениями, выполненными ранее методом PFM [25,38], находятся и представленные на рис. 3 длины доменов.…”
Section: обсуждение результатовunclassified