Efeitos de radiação em dispositivos eletrônicos com feixes de íons pesados

Abstract

AgradecimentosAgradeço primeiro à minha família, em especial aos meus pais, Edson e Beti, meu irmão Guilherme e meus avós Walter e Waldemarina por todo apoio e compreensão e ajuda durante todo o curso de física e o desenvolvimento deste trabalho, pois não deve ser fácil ter um físico na família. Agradeço à Marília, por todo amor e compreensão que me dedica e que tanto me ajudou terminar esta dissertação.Agradeço também àqueles que me ajudaram a dar os primeiros passos na pré-carreira acadêmica, professores Max, Colognesi e Paulo Giannini. Aos grandes amigos da física, Danosa, Luiz, Mano, Al Queda, Bardo, Gomes, Hellmann's, Kamika e Ismael, pois sem eles eu não teria me formado (ou talvez até tivesse me formado antes, mas sem diversão nenhuma, sem churrasco, sem cerveja, sem pizza, sem truco e sem nenhuma boa história). Aos grandes amigos que conheci no DFN e que foram fundamentais no desenvolvimento deste trabalho, não apenas ajudando em seu desenvolvimento, mas também trocando idéias, discutindo física e tomando hectolitros de café todos os dias: Renato, Elienos e Caio (sempre dispostos a ajudar com o ROOT), Erich (sempre discutindo física, ajudando com ROOT e nas montagens), Valdir e Jeremias (pelas várias idéias e toda a ajuda em montagens e com o Latex), Rafael, Paula e Saulo. Aos professores Roberto Ribas, por toda ajuda com instrumentação e todos os esclarecimentos sobre poder de freamento, Alexandre Suaide, pela ajuda com o ROOT e a todos os outros professores e colegas do DFN, em especial do Grupo Gama, pela colaboração em diferentes etapas deste trabalho. A todos os funcionários do DFN, pois sem eles este trabalho não teria sido realizado. Em especial, Otávio, Edmilson e Pedro pela confecção das peças na oficina mecânica, Celso e Luiz Marcos, por toda a ajuda com os sistemas de vácuo, João por todos os desenhos mecânicos, Zé Carlos, por ter preparado o cadinho mais heterodoxo de todos, Silvinho, Rone e Jorge, por manter a máquina funcionando, Wanda, Sérgio, Fábio, Messias e todos os outros que estiveram sempre dispostos a colaborar, dar idéias e resolver problemas.Aos professores da FEI Marco Antônio Melo e Renato Giacomini e seus alunos Juliano e Augusto, pelo desenvolvimento do sistema de aquisição de dados que gerou os resultados deste trabalho (sem eles, eu estaria até agora buscando resultados).Aos colegas do grupo de radiação em dispositivos eletrônicos: Shila, por todas as idéias e empolgação em diferentes momentos, além das importantes discussões sobre os resultados, Eduardo Macchione, por me ensinar muita coisa sobre instrumentação nuclear e ainda colaborar em todos os períodos incessantemente, Fernando Aguirre (versão sóbria do Al Queda) por sua colaboração nos períodos e na discussão de resultados, Seixas, por toda ajuda com o sistema de aquisição PXI.Ao CNPq e ao Instituto de Física, pelo apoio financeiro e institucional.Por último, agradeço ao Nemi por ter sempre uma idéia melhor que as minhas e fazer tudo funcionar (sem ele não teria nem meia página pra escrever aqui), além da grande ajuda ...

Aplicação da comunicação óptica intersatélite em missões de formação em voo de pequenos satélites

“…Porém, na região da ionosfera, onde se localiza a órbita LEO, há várias formas de perturbação que podem comprometer o desempenho do enlace, tal como arrasto atmosférico, radiação solar, bolhas de plasma e perturbação gravitacional do termo J2. Esses efeitos podem alterar a qualidade do sinal, aumentando a probabilidade de falhas, além de influenciar nos componentes e na precisão de apontamento, rastreio e aquisição dos dados [12][13][14] . Atualmente, a solução utilizada é recorrer a manobras orbitais, por meio de propulsores, para retornar os satélites à formação original (formation-keeping) [15][16][17] .…”

Metodologia de testes para qualificação de sistemas eletrônicos expostos à radiação ionizante

“…Para cálculo do poder de freamento, perdas de energia e outros parâmetros importantes nos laboratórios de Física Nuclear, utiliza-se parametrizações semi-empíricas. A mais utilizada atualmente é a devida a Ziegler, Biersack e Littmark (ZBL) e baseia-se num conjunto amplo de dados experimentais (AGUIAR, 2014;LINARES, 2009;NAKAMURA;GROUP, 2010;SHANEYFELT;DODD, 2013). …”

“…Fonte: (AGUIAR, 2014) 3.2 Dispositivos sob Teste Para os experimentos foram utilizados dois microcontroladores comerciais de prateleira:…”

Oscilador controlado Por tensão com estrutura em anel, com critérios de confiabilidade aos efeitos da radiação

“…Portadores de carga começam então a se movimentar pelo plasma e em volta dele até sua dissipação, quando os pares restantes irão se difundir pelo semicondutor. O pulso de corrente no semicondutor é então formado pela soma das contribuições direta e através do funnelling [84]. Baseado no comportamento de um pulso gerado por um SEE, Messenger [6] propôs um modelo matemático para a corrente resultante (I p(t)) , baseado em uma dupla exponencial, conforme a equação seguinte:…”