Подано результати експериментального дослiдження голлiвських параметрiв i часiв життя неосновних носiїв заряду в трансмутацiйно леґованих кристалах n-Si P , що пiддавалися високотемпературним вiдпалам рiзної тривалостi й охолоджувалися з рiзними швидкостями. Установлено, що процеси мiждефектної (чи домiшково-дефектної) взаємодiї в кристалi пiд час монотонного охолодження його вiд температури вiдпалу до кiмнатної (за рiзних швидкостей охолодження) не вiдповiдають монотоннiй змiнi цих швидкостей. Виявлено, що за високотемпературної (1200 • C) обробки трансмутацiйно леґованих кристалiв кремнiю n-типу протягом 2 год i швидкостi охолодження 15 • C/хв, а також протягом 72 год i всiх дослiджених швидкостей охолодження (1, 15 i 1000 • C/хв) в їхньому об'ємi вiдбувається ґенерацiя глибоких донорних центрiв. Установлено, що найвищi часи життя неосновних носiїв заряду пiсля високотемпературних вiдпалiв отримують у зразках, якi охолоджувалися зi швидкiстю 15 • C/хв (серед серiй високотемпературних вiдпалiв протягом 2 i 72 год).Ключовi слова: кремнiй, трансмутацiйне леґування, термообробка, швидкiсть охолодження, голлiвськи параметри, час життя.