Resumo -Este artigo apresenta um modelo analítico simples e acurado para cálculo de perdas em MOSFETs de potência. Uma análise comparativa entre o modelo proposto e modelos comumente utilizados na literatura é mostrado. O modelo proposto utiliza uma simplificação na modelagem das cargas das capacitâncias parasitas. Variações da temperatura de junção com a variação da frequência são consideradas. Resultados térmicos obtidos experimentalmente são usados para validar o modelo em frequências de até 300 kHz. Os resultados demonstram acurácia do modelo proposto usando dois part numbers de MOSFETs diferentes, com as tecnologias de superjunção e Silício convencional. Devido à acurácia e simplicidade de implementação, este modelo é recomendado para utilização em análises onde são verificados extensivos pontos de operação (tensão, frequência e potência), algorítimos genéticos e aplicações com banco de dados.