Electrical and photoelectric properties of Yb/CIGS thin film Schottky photodiode

Aldemir, Durmuş Ali; Kaleli, Murat; Yavru, Alp Celal

doi:10.1016/j.sna.2020.112091

Cited by 7 publications

(3 citation statements)

References 30 publications

Supporting

Mentioning

Contrasting

Unclassified

Order By: Relevance

“…Aynı grup numunelerde CIGS fazının (112) yönelimini temsil eden pikin ana pik olduğu bununla beraber CIGS fazının dışında CIS ve MoSe2 fazının var olduğu tespit edilmiştir. Elde edilen sonuçlar önceki çalışmalarda belirtilen XRD sonuçları ile uyumludur [32,[39][40][41].…”

Section: Bulgularunclassified

“…B grubu numunelerin XRD sonuçlarında başka bir faz oluşu görülmemektedir. Bu sonuçlar daha önceki çalışmalar ile uyumludur [29,32]. incelendiği takdirde A grubu numuneler için film yüzeyindeki kümelenmelerin belirgin hale gelmeye başladığı, B gurubu numunelerde ise 10000 büyütmeye göre daha belirgin hale geldiği görülmektedir.…”

Section: Bulgularunclassified

“…CIGS malzemesi termal buharlaştırma, saçtırma, kimyasal buhar biriktirme gibi farklı yöntemler ile üretilebilmektedir [27][28][29][30]. Üretim parametrelerindeki değişiklikler, alttaş farklılığının CIGS yapısı üzerine etkisi, element oranının CIGS üzerine etkisi gibi yapısal karakterizasyon çalışmalarının yanında literatürde CIGS Schottky diyot, detektör, güneş hücresi gibi aygıt çalışmaları da mevcuttur [31,32]. Özellikle güneş hücresi çalışmalarında sıkça çalışılan bir soğurucu katman malzemesidir ve son yıllarda tandem güneş hücresi çalışmalarında tercih edilir hale gelmiştir [33,34].…”

Section: Introductionunclassified

See 2 more Smart Citations

CIGS İnce Film Yüzeyindeki Morfolojik Farklılıkların GLCM Görüntü İşleme Yöntemi ile İncelenmesi

Yavru

Üncü²,

Kaleli

et al. 2022

Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Edebiyat Fakültesi Fen Dergisi

View full text Add to dashboard Cite

Çalışmada Mo folyolar ve cam üzerine DC saçtırma yöntemiyle kaplanmış Mo ince filmler üzerine aynı anda termal buharlaştırma metoduyla CIGS yarıiletken malzemesi biriktirilmiştir. İki grup Mo alt katmanların AFM cihazı ile topoğrafyaları ve ortalama yüzey pürüzlülükleri elde edilmiştir. CIGS ince filmlerin kalınlıkları SEM cihazı ile kesit görüntüleri alınarak, 1,122 µm olarak tespit edilmiştir. Numunelerin XRD ölçümleri alınarak yapısal farklılıkları belirlenmiştir. Mo folyo ve ince film alt katmanı üzerine biriktirilen CIGS ince filmlerin yüzeyinden 5000, 10000, 25000 ve 50000 büyütmelerde SEM görüntüleri alınmıştır. Elde edilen SEM görüntülerinin GLCM metodu ile Haralick doku özellikleri incelenmiş, elde edilen sonuçlar değerlendirilerek alt katman Mo topoğrafyasının CIGS ince filmlerin morfolojisi üzerine etkisi araştırılmıştır. Hesaplanan Haralick doku özelliklerinin görece geniş alanlardan daha küçük alanlara doğru değişimleri değerlendirilmiştir. A grubu numunelerden elde edilen görüntülerde enerji değerinin 0,21 ile 0,54 arasında, karşıtlık değerinin 0,15 ile 0,35 arasında, korelasyon değerinin 0,66 ile 0,65 arasında ve homojenite değerinin 0,82 ile 0,92 arasında değiştikleri tespit edilmiştir. B grubunda aynı doku özelliklerinin farklılık gösterdiği görülmüştür. Alttaş farklılığının yapı ve morfoloji üzerine etkisi, SEM görüntülerinin doku özellikleri farklılıkları ile açıklanmıştır.

show abstract

Section: Bulgularunclassified