Метод определения флексоэлектрических коэффициентов нематического жидкого кристалла 1 Делев В.А., Скалдин О.А., Тимиров Ю.И.
Институт физики молекул и кристаллов УНЦ РАН, УфаПредложен метод определения флексоэлектрических коэффициентов нематического жидкого кристалла. Для этого вначале необходимо пронаблюдать флексоэлектрические домены с помощью поляризационно-оптического микроскопа (электрооптический метод). Затем получить их оцифрованные изображения и опре-делить оптический контраст K полученных изображений. Линейный фиттинг зависимости контраста K от приложенного напряжения U вблизи порога позволяет достаточно точно определить критическое напря-жение Uc образования пространственно-периодической структуры. Пространственный период наблюдаемых структур определялся при помощи двумерного Фурье-преобразования оцифрованных изображений. Исполь-зуя материальные параметры нематического жидкого кристалла в линейном анализе устойчивости основного состояния, а в качестве параметра фиттинга разность флексоэлектрических коэффициентов (e1 − e3), вы-числяются пороговые характеристики (критическое напряжение и характерный пространственный период) флексоэлектрических доменов близкие к экспериментальным. Выбранная таким образом разность флексо-коэффициентов принимается за искомый результат.Ключевые слова: жидкие кристаллы, флексоэлектрический эффект, флексоэлектрическая неустойчивость, флексоэлектрические домены, флексоэлектрические коэффициенты