Este artigo descreve a utilização da microscopia eletroquímica de varredura (SECM) no modo geração pelo substrato/coleta pela ponta (SG/TC), com o objetivo de elucidar aspectos mecanísticos da deposição eletrolítica e redissolução anódica de íons Pb 2+ na presença de Cu
2+, utilizando-se um eletrodo de carbono vítreo como substrato. Um pico anódico foi observado entre os principais picos correspondentes à redissolução dos metais puros. A posição, intensidade e forma deste pico foram investigadas e foi verificado que eram função da razão entre as concentrações de Pb 2+ e Cu 2+. Os resultados sugerem que o pico é devido à dissolução do chumbo depositado sobre cobre, resultante de uma deposição em regime de subtensão. A SECM forneceu informações adicionais para o entendimento dos mecanismos de redissolução que não seriam obtidas a partir da análise apenas da resposta voltamétrica. This paper describes the application of scanning electrochemical microscopy (SECM) in the substrate-generation/tip-collection (SG/TC) mode to elucidate mechanistic aspects of the deposition and stripping of Pb 2+ ions in the presence of Cu 2+ into a glassy carbon substrate electrode. A stripping peak was observed between the main peaks corresponding to the pure metals. Its position, height and shape were investigated, and the peak intensity was found to depend on the Pb 2+ /Cu 2+ concentration ratio. The results suggested that this peak was due to the dissolution of lead deposited in copper, as a result of an underpotential deposition. The scanning electrochemical microscope provided additional information towards the understanding of the stripping mechanisms in analytical studies. In particular, the SECM-tip response yielded direct evidence about the speciation of some of the compounds evolved during stripping. This information was not available from the voltammetric response of the substrate electrode alone.