“…В результате исследований тонких и сверхтонких (десятки-сотни нанометров) пленок ТФСО, сформи-рованных путем термического вакуумного осаждения, была также показана перспективность в плане разра-ботки OLED устройств, продемонстрированы диодные характеристики при использовании чередующихся сло-ев ТФСО n-и p-типа проводимости [6,7]. При ис-пользовании метода ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (UPS) для пленок некоторых ТФСО была установлена структура электронных состояний валентной энергетической зоны и установлены значения электронной работы выхода, например, изменяющейся от 4.0 до 4.3 eV при допировании p-типа пленки мо-лекул 1,4-bis(5-phenylthiophen-2-yl)benzene [6,7,15]. Од-ним из экспериментальных подходов к изучению плот-ности незаполненных электронных состояний (DOUS) является методика спектроскопии полного тока (СПТ), позволяющая проводить исследования энергетических состояний в зоне проводимости посредством тестиру-ющего пучка медленных электронов и непосредствен-но устанавливать значения работы выхода исследуе-мой поверхности в процессе осаждения органического слоя на подложку [16,17].…”