DOI: 10.53846/goediss-10184
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Elektronenmikroskopische Untersuchung des Einflusses elektrischer Felder auf das Sinterverhalten von Oxidkeramiken

Danny Schwarzbach

Abstract: Abbildung 1.1. -Verschiedene Sinterprozesse auf der Zeit-Temperatur-Skala. Die schematische Zusammenstellung ist angelehnt an [12].Im Fall des Flash Sinterns -der Methode, die in dieser Arbeit untersucht wird -werden noch höhere Felder, als bei gewöhnlichen, feldunterstützten Sinterverfahren, wie dem SPS 1.1 , angelegt (Abbildung 1.2 (a)). Dies führt zu einer weiteren Verringerung der Verarbeitungstemperatur um mehrere Hundert Grad und einer stärkeren Verdichtung des Materials. Die erwarteten Spannungs-und Str… Show more

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