DOI: 10.47749/t/unicamp.2001.275983
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Especiação e determinação de arsenio e selenio em amostras de aguas naturais por fluorescencia de raios X dispersiva em energia

Abstract: Aos meus pais Wilson e Leila que me dao carinho, fors;a, estimulam a realizar meus sonhos, sou etemamente grato.A minha orientadora Professora Doutora Silvana Moreira Simabuco, os meus agradecimentos pela sua amizade e confian<;a, que muito me ensinou e ajudou, irei sempre lembrar. A todos os professores que tive o prazer de conviver durante o mestrado, que muito auxiliaram na minha forma<;ao academica. A Professora Doutora Ana Vives e ao Professor Doutor Edevar Luvizotto J\mior pelas conversas construtivas e … Show more

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“…A Figura 3.9 apresenta um arranjo para análise de SR-TXRF. Chama-se de efeito matriz as interferências causadas pelos elementos que constituem a própria amostra, que podem diminuir a intensidade de raios X de elementos de alto número atômico, devido a efeitos de absorção dos raios X característicos destes elementos pela própria amostra, ou podem aumentar as intensidades de raios X de elementos de baixo número atômico (reforço), pois os raios X característicos gerados por elementos de alto número atômico presentes na amostra também contribuem para a excitação dos elementos de baixo número atômico, e apresenta limite de detecção superior aos métodos analíticos convencionais para alguns tipos de amostras (GREGÓRIO, 2001).…”
Section: Fluorescência De Raios X Por Reflexão Total (Txrf)unclassified
“…A Figura 3.9 apresenta um arranjo para análise de SR-TXRF. Chama-se de efeito matriz as interferências causadas pelos elementos que constituem a própria amostra, que podem diminuir a intensidade de raios X de elementos de alto número atômico, devido a efeitos de absorção dos raios X característicos destes elementos pela própria amostra, ou podem aumentar as intensidades de raios X de elementos de baixo número atômico (reforço), pois os raios X característicos gerados por elementos de alto número atômico presentes na amostra também contribuem para a excitação dos elementos de baixo número atômico, e apresenta limite de detecção superior aos métodos analíticos convencionais para alguns tipos de amostras (GREGÓRIO, 2001).…”
Section: Fluorescência De Raios X Por Reflexão Total (Txrf)unclassified