DOI: 10.11606/t.43.2008.tde-30032009-110159
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Estudo das propriedades magnéticas de um objeto microestruturado através do SNOM-MO

Abstract: Dedico este trabalho aos meus pais e à minha família.iii AgradecimentosGostaria de agradecer as várias pessoas que contribuíram de forma direta ou indireta para a realização deste trabalho.Em especial, ao Toninho, pela oportunidade e voto de confiança para a realização deste trabalho, pela orientação e dedicação, sugestões e conselhos sempre dados de modo preciso e sempre pacientes, e principalmente pela sua amizade; Ao Seabra, pelos ensinamentos em sua área de pesquisa e principalmente pela paciência e insist… Show more

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“…Como exemplo de um material como esse tem-se a platina. O processo de lift-off caracteriza-se basicamente pela inicial produção de uma estrutura por e-beam (exposição/revelação) em um sistema de resistes positivos (que pode ser composto por uma única, duas ou três camadas bem como num sistema multilayer etc) colocado sobre um substrato [38][39][40]. Em seguida, realiza-se uma etapa de deposição de um filme fino sobre todo o substrato do material desejado por "sputtering" ou por evaporação.…”
Section: Processo De Lift-offunclassified
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“…Como exemplo de um material como esse tem-se a platina. O processo de lift-off caracteriza-se basicamente pela inicial produção de uma estrutura por e-beam (exposição/revelação) em um sistema de resistes positivos (que pode ser composto por uma única, duas ou três camadas bem como num sistema multilayer etc) colocado sobre um substrato [38][39][40]. Em seguida, realiza-se uma etapa de deposição de um filme fino sobre todo o substrato do material desejado por "sputtering" ou por evaporação.…”
Section: Processo De Lift-offunclassified
“…Um gerador de sinal é ajustado na frequência de ressonância do conjunto diapasão/ponta aplicando uma tensão senoidal no piezo. A vibração do bloco estimula a vibração do conjunto cuja amplitude é monitorada por um amplificado "Lock-in" completando o circuito de deteção [10,40]. Para atingir distâncias nanométricas da amostra sem tocá-las, aproximamos o conjunto ponta/diapasão em direção à amostra.…”
Section: Microscópio óPtico De Varredura Em Campo Próximo No Modo Magunclassified