Etude en microscopie électronique du contraste des dislocations décorées dans des structures cubiques

Abstract

Une étude expérimentale en microscopie électronique des dislocations décorées dans deux structures cubique centrée et cubique à faces centrées a mis en évidence, comme principales caractéristiques de la décoration, un élargissement de l'image et l'apparition de deux ou plusieurs franges noires. Pour expliquer ces phénomènes, nous avons utilisé un modèle dans lequel le précipité est représenté par un cylindre superposé à la dislocation et introduisant dans la matrice un champ de déplacement supplémentaire. Les profils d'intensité et les images simulées calculés sur ordinateur à partir de ce modèle sont en bon accord qualitatif avec les observations expérimentales, notamment en ce qui concerne l'élargissement de l'image et l'apparition des franges.

Transmission electron microscopy studies in relation to production of solar cells from polycrystalline silicon sheets (R.A.D. process)

“…This plate shows the influence of precipitation on dislocation contrast; impurities change the dislocation width and lower the specific contrast due to the deformation field from the dislocation alone. To understand the quantitative modifications brought about by precipitation on dislocation contrast, we computed and imaged simulated topographies; the double-line contrast observed by Montheillet et al (1973) on decorated dislocations was especially investigated (MouddaAzzem, 1985).…”

In situ experimentation and defect imaging techniques in “thick” specimens in HVEM

“…b = 0) is not fulfilled, e.g. in the case of either an anisotropic medium [3 11 or of decorated dislocations [32]. )…”

Comparison of the properties of electron microscope images from dislocations and rows of tetragonal point defects

“…This may reduce the dislocation mobility and, therefore, enhance the strength of the material. Up to now very few attempts have been made to investigate the influence of such impurities on dislocation images in the electron microscope (1), (2). A new theoretical treatment of this problem will be described in a subsequent paper.…”