2017
DOI: 10.15688/mpcm.jvolsu.2017.4.8
|View full text |Cite
|
Sign up to set email alerts
|

Evaluation of the Possibility of Applying the Method of the Laser Triangulation to Measurement of Thin Film Thickness

Help me understand this report

Search citation statements

Order By: Relevance

Paper Sections

Select...
3

Citation Types

0
0
0
3

Year Published

2018
2018
2019
2019

Publication Types

Select...
2

Relationship

0
2

Authors

Journals

citations
Cited by 2 publications
(3 citation statements)
references
References 0 publications
0
0
0
3
Order By: Relevance
“…Актуальной задачей является сохранение стабильного положения спектрального максимума полу-проводниковых лазеров, так как его смещение ведет за собой ряд негативных последствий, что недопус-тимо при проведении хирургического вмешательства в офтальмологии, например, при измерении толщи-ны роговицы с использованием лазерного источника излучения [8][9][10][11][12]. На сегодняшний момент таких исследований проведено крайне мало [13][14][15][16].…”
Section: Introductionunclassified
See 2 more Smart Citations
“…Актуальной задачей является сохранение стабильного положения спектрального максимума полу-проводниковых лазеров, так как его смещение ведет за собой ряд негативных последствий, что недопус-тимо при проведении хирургического вмешательства в офтальмологии, например, при измерении толщи-ны роговицы с использованием лазерного источника излучения [8][9][10][11][12]. На сегодняшний момент таких исследований проведено крайне мало [13][14][15][16].…”
Section: Introductionunclassified
“…В триангу-ляционном методе [9][10][11][12] лазерный луч используется в качестве указателя и должен формировать пло-ский волновой фронт для максимальной перетяжки фокусируемого луча на поверхности биоткани, про-зрачной для излучения. Толщина пленки определяется через параметры интерференционной картины (период полос) и расстояние от источника до приемника излучения.…”
Section: Introductionunclassified
See 1 more Smart Citation